1. 高分辨罗兰环结构X射线单色器，X射线吸收精细结构谱(XAFS)能量范围：5-19 keV；

2. X射线单色器布拉格角测量范围布拉格角范围：55°- 85°；

3. 单色光光通量：300,000-500,000 photons/sec/eV. (7-9 keV)；

4. XAFS模式能量分辨率：0.5-1.5 eV (7-9 keV)；

5. XAFS模式重复性：＜50 meV 能量尺度漂移，无需重复的单色仪校准；

6. XAFS模式最大加速电压40kV, 最大电流30mA；

7. XES核心-空穴生成速率不小于 10^12/s (7-9 keV)；

8. XES模式能量分辨率：1.0 - 1.5 eV (7-9 keV)；

9. XES模式重复性：＜25 meV 能量尺度漂移；

10. 一元硅漂移探测器，有效面积150mm²；

11. 最佳测量范围（6keV-12keV）的光通量≥200,000 photons/sec（6keV @Si(5,1,1);7keV @Si(5,3,1);8 keV @Si(5,5,1);9 keV @Si(5,5,3);10keV @Si(7,3,3);11keV @Si(9,3,1); 12keV @Si(7,7,3);）；

12. 信噪比：对于典型样品Cu foil，5%功率（60W）下Signal/bkg≥100（@8950eV，power=30kV*2mA，Si(5,5,3)）；

13. 典型元素检测限：对于负载在碳上的典型元素Fe、Co、Ni、Cu检测限为1.0wt%。